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表征场效应晶体管(FETs)和碳纳米管(CNTs)等电子设备可能是一个挑战,因为它需要测量非常低的电流,通常在测试系统的噪声水平或以下。为了成功地进行这些测量,你需要知道使用什么类型的测试设备,蓝冠官网 不同的测量误差来源,以及将这些误差最小化的适当技术。

有许多仪器可用于进行低电流测量。其中之一是数字万用表(DMM)。虽然低成本的3-1/2位手持数字数字管并不是低电平测量的合适解决方案,但是高精度的实验室用数字数字管可以测量低至10pA的当前电平。

其他用于测量低电平电流的选项包括皮安计、静电计和源测量单元(SMUs)。每种类型都提供了一组不同的功能和范围。例如,蓝冠 静电计可以测量低至仪器输入偏置电流的电流,在某些情况下低至1飞安培。一些smu可以测量低至400atto -amps的电流。

保持它!

所有这些仪器的灵敏度都受到测试仪器本身内部和外部噪音的限制。例如,被测设备(DUT)的源电阻设置约翰逊电流噪声的水平,这是导体中温度对电子的影响所引起的低电平噪声。源电阻越低,约翰逊噪声越高。

温度和噪声带宽对约翰逊电流噪声都有影响。减小任一参数也会减小约翰逊电流噪声。例如,在超导研究等研究中,低温冷却通常用于降低放大器和其他电路中的噪声,但所需的冷却设备成本高昂。噪声带宽可以通过滤波来降低,但这会降低测量的速度。约翰逊电流噪声也可以通过增加被测工件的源电阻来降低,但这几乎不可能做到。

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