蓝冠注册《Q374919》半导体的低剂量率电离剂量响应已成为空间应用中的一个关键问题。常规60Co高剂量率接受测试已被证明对某些技术是非保守的，蓝冠官网 并日益被视为已过渡到非线性范围的经典加速测试。空间中的实际剂量率比这些接受测试水平低许多个数量级。Intersil采用了三阶段的方法来应对这个变化了的市场。

首先，2009年启动了13个选定遗留部件的低剂量率测试计划[1,2]，蓝冠注册 目前已完成。这些测试是按照MILSTD-883测试方法1019.7诊断方案进行的。在所有情况下实验矩阵由五个高剂量率辐照样品针接地,五个样品在高剂量率辐照下偏差,五在低剂量率辐照样品针接地,五个样品在低剂量率辐照下偏见和一个控制单元。在此计划下测试的大部分遗留部件是在介质隔离互补双极工艺中实现的。在HS26CxRH部件上进行了两次Legacy ELDRS测试，该部件使用结隔离(块)epi CMOS技术。目前，所有13个测试部件已以低剂量率完成150krad(Si)，并在Intersil网站[3]上发布了报告。

作为第二阶段，蓝冠招商 所有新的开发部分，如ISL70001SRH[4]和ISL7884xASRH[5]，现在都以高剂量率和低剂量率作为产品开发的常规部分。这些部件使用0.6um的大块BiCMOS电源管理流程，代表了Intersil RHA产品线向更高层次集成的扩展。我们发现这两个部分都没有eldr，总结这两种产品结果的报告发布在Intersil网站[3]上，以备参考。

作为第三步，Intersil正在推出晶片接晶片的低剂量率接受测试，作为目前高剂量率接受测试的补充。支持这项工作的拱顶型60Co低剂量率辐照器已在Intersil Palm Bay设施完成。本附注的其余部分讨论了该设施的设计和建造，以及用于验收测试工作的测试方法